Спектрометр Elvax Industrial
ElvaX Industrial — это "промышленная" версия хорошо зарекомендовавшего себя лабораторнрго спектрометра ElvaX.
От базовой модели
он отличается увеличенными размерами аналитической камеры, что позволяет проводить анализ объектов с размерами до 45х45хх25 см.
Назначение
Прибор используется для экспрессного количественного и качественного анализа состава металлических сплавов, порошков, жидкостей на содержание химических элементов от Mg (атомный номер Z=12) до U (Z=92) в широком диапазоне концентраций.
Точность определения массовых долей металлов не хуже 0,1%.
Пределы обнаружения примесей тяжелых металлов в легкой матрице не хуже 1 ppm.
Области применения
• Черная и цветная металлургия
• Ювелирная промышленность
• Экологический мониторинг
• Проведение экспертиз
• Криминалистика
• Археология
• Химическая промышленность
• Нефтеперерабатывающая промышленность
• Геология и минералогия
• Инспекция на соответствие RoHS/WEEE (директива об отходах электрического и электронного оборудования - Waste Electrical and Electronic Equipment directive).
Диапазон определяемых элементов
|
от Mg (Z=12) до U (Z=92))
|
Время измерения пробы |
10 – 1200 с |
Питание |
90 - 240 В, 50/60 Гц |
Потребляемая мощность |
40 Вт
|
Габариты |
500 мм x 500 мм x 400 мм |
Масса |
32 кг |
Устройство возбуждения
|
Рентгеновская трубка |
W анод 250 мкм бериллиевое окно или
Ag анод 150 мкм бериллиевое окно, воздушное охлаждение
|
Генератор
|
напряжение: 4-50 кВ с шагом 0,1 кВ,
ток: 0-100 мкА с шагом 0,2 мкА,
максимальная мощность: 5 Вт |
Стабильность |
0,1% за 8 часов работы |
Тип детектора |
полупроводниковый кремниевый с
термоэлектрическим охлаждением
|
Активная площадь |
6 мм2 |
Разрешение |
165 эВ при 5,9 кэВ (линия Mn Ka) |
Бериллиевое окно |
12 мкм |
Цифровой процессор импульсов
|
режектор наложений;
селектор по форме импульса;
автоматическая адаптация к загрузке. |
АЦП |
4096 канальный
|
Буферное ОЗУ |
32-бита на канал
|
Таймеры |
реального и "живого" времени |
Операционная система |
Windows 98/NT/2K/XP |
Алгоритмы количественного
анализа |
алгоритм фундаментальных параметров;
множественная шаговая регрессия;
сравнение спектров |
|